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40G测试仪表提前迎来集采高潮

2010-03-29 15:04:03 来源:通信产业网 作者:josem 责任编辑: cps911 收藏本文

  光学层测试主要是光谱测试和误码测试,由于40G传输速率是10G的4倍,传输速率变快,偏振膜色散的要求越来越小,对测量设备的精度要求特别高,仅为以往10G测量设备的四分之一。同时,全光网络的出现又促使了ROADM的发展,以往能够轻松测量的信道比,在40G也尤为艰难。


  而在基础的眼图测试上,以往的电示波器也很难达到满足40G以上的测试标准,目前出现带宽最高的电示波器能够达到80Gb,但是为了能够测量40G的眼图,要求示波器有更高的采样速率。


  由于测试数据要求的精度越来越高,原有测试方法不再适用,而新的测试方法进展缓慢,令40G测试曾一度困扰产业发展。


  产品日益完善


  经过这两年的发展,目前厂商提供的40G测试仪表已经基本成熟,能够满足运营商目前的需求。


  40GDWDM系统的带内信噪比测试一直是40G网络测试的焦点。目前EXFO、JDSU都推出了具有带内测试的测试仪表,所谓带内测试,是指光信号传输过程中测量能量带内的信噪比,相比以往10G的信噪比测试,更接近真实信噪比。JDSU最先提出了极化分离的办法测试带内信噪比,与JDSU极化分离方法相似,EXFO采用专利偏振偏移方法,使进入测试仪表的光信号和噪声信号分离,之后重整,进而得出真实的信噪比。


  而在眼图测试上,EXFO推出的PSO光采样示波器已经推出,高达500G带宽测试,能够轻松应对100G甚至160G的测试。


  目前业内热议的40G和10G共存的测试,也已经不是问题。


  樊慧琼表示,目前对混合了10G和40G两种速率信号的DWDM系统进行测试,只要针对不同的测试参数分别提供相应的测试仪表,端到端的误码可以分别使用10G的仪表和40G的仪表来测试,各个通道的抖动和漂移也可用相应速率的具备抖动和漂移测试功能的仪表来测试,带内信噪比用具备该功能的光谱仪来测试即可。


  仍存挑战


  樊慧琼表示:“目前40G测试面临的挑战主要是来自于设备运营商和设备制造商对测试提出的高要求,特别是在40GOTN方面,很多标准也是同步制定的,要在短时间内跟上标准的发展。”


  与此同时,尽管仪表大体上已经完善,但在运营商实际测试中仍存在很多问题,例如,如何衡量在现有10G设备上是否能够传输少量40G波段?为此EXFO推出了在线的CD和PMD测试,不需要停止业务运行,就可以测量光纤的传输能力。网络建设环境不同,测试环境不同,测试厂商仍需在测试方法和测试方案上有所创新。


  160G研究已经在国际实验室紧锣密鼓地进行,而100G的设备还处在研发阶段,不管是目前阶段采用的10×10G的技术,还是以后采用的4×25G的技术,在测试上还要考虑各个通道的对齐问题,这在以往的测试中也是未曾遇到的,这仍是未来需要关注的难题。

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